芯片PCT老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST、現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。

PCT老化試驗箱安全裝置：

1、鍋內(nèi)安全裝置：鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動。

2、安全閥：當鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

3、雙重過熱保護裝置：當鍋內(nèi)溫度過高時，機器嗚叫警

4、報并自動切斷加熱電源。

5、門蓋保護：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。

PCT老化試驗箱試驗：

1、試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

2、用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。  

3、隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力試驗方法。

芯片PCT老化試驗箱簡介：

   適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。專業(yè)模擬檢測設(shè)備的企業(yè)，生產(chǎn)歷史長、技術(shù)精。為國內(nèi)多家品牌測試設(shè)備廠所配套使用,建廠三十余年,備受好評。